平面度誤差的測(cè)量方法是什么？

    近幾年，隨產(chǎn)工業(yè)生產(chǎn)要求日益提高，產(chǎn)品的平面度要求也日益提高，如手機(jī)配件行業(yè)、汽車配件行業(yè)，電子行業(yè)等，那什么是平面度呢，如何測(cè)量產(chǎn)品的平面度呢，億輝光電通過(guò)大量學(xué)習(xí)跟你分享如下：平面度誤差是指被測(cè)實(shí)際表面對(duì)其理想平面的變動(dòng)量。 

 

    平面度誤差是將被測(cè)實(shí)際表面與理想平面進(jìn)行比較，兩者之間的線值距離即為平面度誤差值；或通過(guò)測(cè)量實(shí)際表面上若干點(diǎn)的相對(duì)高度差，再換算以線值表示的平面度誤差值。 

 

平面度誤差測(cè)量的常用方法有如下幾種： 

 

    激光平面度測(cè)量法：這個(gè)方法是現(xiàn)在用在高精度工件測(cè)量方面的最佳方法，通過(guò)取點(diǎn)或排面完成平面度的測(cè)量。

 

    探針平面度測(cè)量方法：通過(guò)探針對(duì)高精度工件的平面度進(jìn)行測(cè)量，精度要求越高，需要求打的點(diǎn)會(huì)越多，具體看產(chǎn)品的要求。

    

    非接觸式影像平面度測(cè)量方法：通過(guò)取點(diǎn)對(duì)平面度進(jìn)行測(cè)量，相比激光測(cè)量及探針測(cè)量方法，影像測(cè)量精度會(huì)低些，如對(duì)平面度要求不是太高的企業(yè)也可以選擇，設(shè)備的價(jià)格相對(duì)便宜。

 

    平晶干涉法：用光學(xué)平晶的工作面體現(xiàn)理想平面，直接以干涉條紋的彎曲程度確定被測(cè)表面的平面度誤差值。主要用于測(cè)量小平面，如量規(guī)的工作面和千分尺測(cè)頭測(cè)量面的平面度誤差。 

 

    打表測(cè)量法：打表測(cè)量法是將被測(cè)零件和測(cè)微計(jì)放在標(biāo)準(zhǔn)平板上，以標(biāo)準(zhǔn)平板作為測(cè)量基準(zhǔn)面，用測(cè)微計(jì)沿實(shí)際表面逐點(diǎn)或沿幾條直線方向進(jìn)行測(cè)量。打表測(cè)量法按評(píng)定基準(zhǔn)面分為三點(diǎn)法和對(duì)角線法：三點(diǎn)法是用被測(cè)實(shí)際表面上相距最遠(yuǎn)的三點(diǎn)所決定的理想平面作為評(píng)定基準(zhǔn)面，實(shí)測(cè)時(shí)先將被測(cè)實(shí)際表面上相距最遠(yuǎn)的三點(diǎn)調(diào)整到與標(biāo)準(zhǔn)平板等高；對(duì)角線法實(shí)測(cè)時(shí)先將實(shí)際表面上的四個(gè)角點(diǎn)按對(duì)角線調(diào)整到兩兩等高。然后用測(cè)微計(jì)進(jìn)行測(cè)量，測(cè)微計(jì)在整個(gè)實(shí)際表面上測(cè)得的最大變動(dòng)量即為該實(shí)際表面的平面度誤差。 

 

    激光平面度測(cè)量法：這個(gè)方法是現(xiàn)在用在高精度工件測(cè)量方面的最佳方法，通過(guò)取點(diǎn)或排面完成平面度的測(cè)量。

 

    探針平面度測(cè)量方法：通過(guò)探針對(duì)高精度工件的平面度進(jìn)行測(cè)量，精度要求越高，需要求打的點(diǎn)會(huì)越多，具體看產(chǎn)品的要求。

 

    當(dāng)然測(cè)量平面度不只有這幾種方法，如有“液平面法”、“光束平面法”等，企業(yè)可以根據(jù)產(chǎn)品的測(cè)量需求選擇最優(yōu)的測(cè)量方法。以上是億輝光電為您總結(jié)分享。